您好,歡迎來到武漢市艾德寶儀器設備有限公司!
產(chǎn)品型號: ZetaView
所屬分類:分析儀
產(chǎn)品時間:2023-10-28
簡要描述:納米顆粒跟蹤分析儀Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術,結(jié)合經(jīng)典微電泳技術和布朗運動成為現(xiàn)代的分析手段。自動校準和自動聚焦功能,讓用戶眼見為實,更加直觀人性化。通過子體積的掃描,來自于數(shù)以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計算出來。此外,顆粒濃度也可以通過視頻計數(shù)分析得到。
測量范圍
測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品,顆粒跟蹤技術的檢測下限為10nm;相應的,如果樣品的散射能力較弱,則檢測下限會變得更大。假如樣品穩(wěn)定,不會沉淀或漂浮,zeta電位測量的粒徑上限為50微米,對于粒徑測量為3微米。
源于視頻分析的顆粒計數(shù)
顆粒濃度可通過視頻分析得到,并歸一化處理,散射體積對粒徑。可檢測的最小濃度為105粒子/cm3,最大為1010粒子/cm3。對于200nm的顆粒,最大體積濃度為1000ppm。
方法
Zetaview激光散射顯微鏡對于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。